产品介绍:

微波暗室测试系统整体解决方案

详细说明:

1、紧缩场测试系统
  提供微波暗室紧缩场测试系统、相关配套设备及配套软件的设计、开发、加工、安装、集成、调试服务,测试频率覆盖0.5~300GHz。
  紧缩场测试系统主要应用于以下领域:
● 雷达目标散射特性测试。可测试内容包括目标单/双站雷达散射截面(RCS)方向图测试、高精度RCS定标、目标二维/三维成像测试等。
● 天线辐射特性测试。可测试的天线性能指标包括天线振幅方向图、相位方向图、交叉极化方向图、天线增益、近区/远区副瓣电平、轴比、波束指向及主瓣宽度等。
● 吸波材料电性能测试。包括吸波材料的反射率测量及表面波衰减测量等,放置在静区内的吸波材料样品受到紧缩场产生的平面波照射,通过测量不同表面、不同状态或不同角度上吸波材料样品的反射回波强度,通过对比计算即可获得吸波材料的反射率及表面波衰减等电性能数值。
● 天线罩测试。通过观测天线在安装天线罩前后各项指标的变化情况,评估天线罩的性能。测试内容主要包括透波率、方向图畸变、天线瞄准误差等。
● 跟踪测试。紧缩场产生平面波照射静区,跟踪系统底部的转台使得跟踪系统与平面波形成不同的角度,跟踪系统随着来波角度的不同而产生相应的响应。对比跟踪系统输出的来波角度变化情况与真实的角度变化情况,从而评估跟踪系统的性能。
● 其他与目标回波幅度及相位有关的测试。

 

2、普通微波暗室测试系统
  提供普通微波暗室测试系统(无紧缩场天线)、相关配套设备及配套软件的设计、开发、安装、集成、调试服务。
  普通微波暗室测试系统主要应用于以下领域:
● 小型目标散射特性测试。 可测试内容包括小型目标单/双站雷达散射截面(RCS)方向图测试、目标二维/三维成像测试等。
● 天线辐射特性测试。可测试的天线性能指标包括天线振幅方向图、相位方向图、交叉极化方向图、天线增益、近区/远区副瓣电平、轴比、波束指向及主瓣宽度等。
● 吸波材料电性能测试。包括小型吸波材料样品的反射率测量及表面波衰减测量等,通过测量不同表面、不同状态或不同角度上吸波材料样品的反射回波强度,通过对比计算即可获得吸波材料的反射率及表面波衰减等电性能数值。
● 其他与目标回波幅度及相位有关的测试。

 

3、测试仪器系统
  测试仪器系统是一套采用进口专用测量仪器设备为核心、以计算机为控制中心的自动测量系统。测试系统的工作体制是点频或频率步进,具有测试速度快的优点,适用于室内测量,测试频率覆盖0.5GHz~110GHz。
  该系统能进行低背景电平下的目标雷达散射截面测量,能进行点频或分段频率步进测量,获取目标RCS与空间姿态角(空间视角)、极化、频率关系的特性,可完成吸波材料电性能测量及天线辐射特性,能对模型目标进行一、二维成像,可确定散射中心及其强度。

 

4、测试软件
● 雷达目标散射特性测试及处理软件
  ■ 系统自动测试控制
  ■ 信号采集/处理
  ■ RCS测试分析
  ■ 数据统计分析
● 一维/二维散射源分布成像软件
● 天线辐射特性测试软件
● 吸波材料电性能测试软件
● 近远场变换软件

 

5、双站RCS测量扩展系统
  在紧缩场单站RCS微波暗室内扩展双站RCS测量功能,紧缩场提供发射平面波,探头扫描测量近场双站散射响应,通过等效合成的“数字平面波静区”实现接收状态的远场平面波要求。
● 双站测量导轨及扫描架设计制造。
● 双站转台成像(双站角30度~120度),双站夹角固定,发射/接收角变化。
● 近场扫描(双站角30度~120度),入射角固定,接收角变化。
● 系统为分布式“天线方向图测量”系统。
● 双站RCS测量近远场变换软件。
● 二维/三维高分辨率双站像。

 
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